产品简介

日本大塚otsuka 电位·粒径·分子量测试系统
● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。

日本大塚otsuka 电位·粒径·分子量测试系统

ZETA电位·粒径·分子量测试系统·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。

● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量

● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布

● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位

● 通过静态光散射法可测量粒子的浓度

● 能过动态光散射法可测量微流变学

● 通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数，可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果,

● 可安装荧光滤光器(选配)

日本大塚otsuka 电位·粒径·分子量测试系统

日本大塚otsuka SMART光学膜厚计测厚仪

可携带至现场的手持式，可测量0.1μm单位，具有形状的样品也可非破坏的测量。 不论基材材质、可测量其镀膜。与桌上型光学膜厚仪相比，Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品，且可以量测特殊形状样品。与接触式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因为用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚计的量测精度。与涡电流/电磁式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不需要制作检量线，且可以量测非金属基材并且得到绝对值！