产品简介

日本大塚otsuka MINUK 3D显微镜 MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

日本大塚otsuka MINUK 3D显微镜

MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。可评价nｍ级的透明的异物・缺陷 一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息 无需对焦，可高速测量 可非破坏・非接触・非侵入的测量 可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。可以非接触、非破坏性、非侵入性地获得nm级的形状信息。通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。肉眼无法看到的透明薄膜内部的填充剂，通过一次拍照即可观察到。此外，通过在测量后改变深度方向的焦点，可以识别到各个深度的填充剂。日本大塚otsuka MINUK 3D显微镜

可携带至现场的手持式，可测量0.1μm单位，具有形状的样品也可非破坏的测量。 不论基材材质、可测量其镀膜。与桌上型光学膜厚仪相比，Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品，且可以量测特殊形状样品。与接触式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因为用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚计的量测精度。与涡电流/电磁式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不需要制作检量线，且可以量测非金属基材并且得到绝对值！

ZETA电位·粒径·分子量测试系统·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。